奧林巴斯OLYMPUS 45MG超聲波測(cè)厚儀
操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、性能可靠
奧林巴斯olympus 45MG是一款配備有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。45MG超聲波測(cè)厚儀具有特色的儀器與奧林巴斯的所有雙晶和單晶測(cè)厚探頭相兼容，是一款集多種解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)功能：
提供基本配置的45MG超聲波測(cè)厚儀是一款簡(jiǎn)單易學(xué)的測(cè)厚儀，操作人員只需少量的培訓(xùn)，就可以處理大多數(shù)常見的測(cè)厚應(yīng)用。不過，添加了可選購(gòu)軟件選項(xiàng)和探頭之后的45MG儀器，就會(huì)變成一款非常先進(jìn)的測(cè)厚儀，可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外，大多數(shù)選項(xiàng)可以在購(gòu)買儀器時(shí)分別購(gòu)買，或在日后需要時(shí)購(gòu)買。
在惡劣環(huán)境中正常操作
堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。
撞擊測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試，每軸6個(gè)循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
振動(dòng)測(cè)試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試，一般暴露：每軸1小時(shí)。
寬泛的操作溫度范圍
可選購(gòu)帶有支架的橡膠保護(hù)套
儀器設(shè)計(jì)，便于操作
簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)，只用單手（左手或右手）即可操控儀器
瀏覽方便的用戶界面，可直接訪問大多數(shù)功能
內(nèi)置microSD存儲(chǔ)卡和可插拔microSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式
USB通信端口
可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置（可選購(gòu)）
通過密碼保護(hù)方式鎖定儀器
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有很高的清晰度
可選功能
只需幾次按鍵，即可完成從簡(jiǎn)單的腐蝕測(cè)厚儀到多功能精確測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供5個(gè)需密碼激活的軟件選項(xiàng)，從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途廣泛的測(cè)厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層（THRU-COAT）：使用回波到回波選項(xiàng)，儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度，而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度，兩種厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，無(wú)需去掉材料表面上的漆層或涂層。
單晶：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料，如：金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷，進(jìn)行非常精確的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透：這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料，如：玻璃纖維或鑄造金屬，進(jìn)行厚度測(cè)量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器：45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描：用戶使用這個(gè)可選配實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中大幅增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲等參數(shù)。
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量 | 雙晶探頭測(cè)量模式 | 從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到第一個(gè)回波之間的時(shí)間間隔 |
| 回波到回波（可選） | 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度 |
| 穿透涂層測(cè)量（可選） | 利用單個(gè)底面回波，測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探頭） |
| 單晶探頭測(cè)量模式（可選） | 模式1：激勵(lì)脈沖與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔
模式2：延遲塊回波與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）
模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于第一個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭） |
| 厚度范圍 | 0.080 mm ～ 635 mm，視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測(cè)量整個(gè)厚度范圍需要使用單晶選項(xiàng)） |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs ～ 18.699 mm/μs |
| 分辨率（可選） | 低分辨率：0.1 mm
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01 mm
單晶選項(xiàng)：0.001 mm |
| 探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz ～ 30 MHz（-3 dB）；高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz ～ 30 MHz（-3 dB） |
一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C ～ 50 °C |
| 鍵區(qū) | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵區(qū)，帶有觸感及聲音反饋 |
| 機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。 設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 |
| 外型尺寸（寬 × 高 × 厚） | 總體尺寸：91.1 mm × 162 mm × 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 電源供應(yīng) | 3節(jié)AA電池 / USB電源供應(yīng) |
| 電池供電時(shí)間 | 3節(jié)AA堿性電池：20 ～ 21小時(shí)
3節(jié)AA鎳氫電池：22 ～ 23小時(shí)
AA鋰電池：35 ～ 36小時(shí) |
| 標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn) |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 × 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、射頻波、正半波、負(fù)半波（波形選項(xiàng)） |
輸入/輸出 | USB | 2.0客戶端 |
| 存儲(chǔ)卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存儲(chǔ)卡 |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形 |
| 文件名、ID編碼和注釋 | 不超過32個(gè)字符的文件名，不超過20個(gè)字符的字母數(shù)字位碼，每個(gè)位有4個(gè)注釋。 |
| 文件結(jié)構(gòu) | 6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) |
| 報(bào)告 | 機(jī)載報(bào)告，總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和最小值/最大值 |
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀使用雙晶探頭：
45MG測(cè)厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測(cè)量那些受到了腐蝕或侵蝕的管道、管子、箱體、壓力容器、船體外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。在這些應(yīng)用中通常使用雙晶探頭。
用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能
當(dāng)校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)雙回波時(shí)，會(huì)發(fā)出雙回波警告
回波到回波/穿透涂層選項(xiàng)可測(cè)量帶有漆層和涂層的表面
高溫測(cè)量：可測(cè)量溫度高達(dá)500 °C的材料
B掃描成像（基于時(shí)間）
45MG測(cè)厚儀所提供的B掃描功能，可在屏幕上將實(shí)時(shí)厚度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為橫截面圖像。這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用，因?yàn)榭捎^察到材料的厚度值隨著探頭的移動(dòng)而發(fā)生的變化。探頭一接觸到材料表面，就會(huì)激活B掃描。凍結(jié)最小值功能用于顯示已掃查區(qū)域的最小厚度值。可選45MG數(shù)據(jù)記錄器最多可存儲(chǔ)單個(gè)B掃描中的10000個(gè)厚度讀數(shù)。
高溫表面
45MG測(cè)厚儀配上D790系列探頭（D790、D790--SM、D790-RL和D790-SL），是測(cè)量高溫材料（溫度高達(dá)500 oC）的理想選擇，可獲得穩(wěn)定的厚度讀數(shù)。45MG的零位補(bǔ)償功能，通過補(bǔ)償探頭延遲塊因熱漂移而產(chǎn)生的溫度變化，提高了在高溫表面上進(jìn)行測(cè)量的準(zhǔn)確性。
回波到回波
測(cè)厚儀通過使用多重底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：
穿透涂層技術(shù)
| 使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度，兩種厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測(cè)量金屬材料的厚度，無(wú)需去掉其表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
使用單晶探頭：
對(duì)塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測(cè)量
使用單晶探頭可以準(zhǔn)確測(cè)量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供多種頻率、直徑和連接器樣式的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用，則必須購(gòu)買單晶軟件或高穿透軟件選項(xiàng)。
在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時(shí)，單晶軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測(cè)量值。
高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料
測(cè)量厚度、聲速或渡越時(shí)間
自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)設(shè)置和自定義設(shè)置用于當(dāng)前應(yīng)用的功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作
單晶軟件選項(xiàng)
使用單晶軟件選項(xiàng)可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米的精確厚度測(cè)量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容?？蓽y(cè)量以下材料和產(chǎn)品：
單晶高穿透軟件選項(xiàng)
用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、玻璃纖維、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
應(yīng)用設(shè)置調(diào)用應(yīng)用設(shè)置調(diào)用功能簡(jiǎn)化了厚度測(cè)量操作。選擇了任何一個(gè)存儲(chǔ)的探頭后，45MG測(cè)厚儀就會(huì)調(diào)出與這個(gè)探頭相關(guān)的所有內(nèi)置參數(shù)。 存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置 45MG儀器帶有21個(gè)標(biāo)準(zhǔn)單晶探頭設(shè)置，可完成常見的應(yīng)用。這些默認(rèn)探頭設(shè)置可用于各種各樣的厚度測(cè)量應(yīng)用。 存儲(chǔ)的自定義設(shè)置 45MG還可存儲(chǔ)最多35個(gè)自定義單晶探頭的設(shè)置，包括校準(zhǔn)信息。您可以連接適當(dāng)?shù)奶筋^，并調(diào)用設(shè)置文件，然后儀器便可進(jìn)行厚度測(cè)量，甚至是在非常困難的應(yīng)用中。
| 材料聲速測(cè)量45MG儀器可以測(cè)量材料的聲速。在材料聲速與其他屬性密切相關(guān)的應(yīng)用中，這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)功能非常有用。典型的應(yīng)用包括監(jiān)測(cè)鑄造金屬的球化程度，以及監(jiān)測(cè)復(fù)合材料/玻璃纖維的密度變化。 縮減率測(cè)量 差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。差值模式顯示實(shí)際厚度與預(yù)先設(shè)定的厚度值之間的差異?？s減率計(jì)算并顯示材料厚度變薄以后厚度縮減的百分比。對(duì)經(jīng)過彎曲變形并將制成車身面板的鋼板進(jìn)行的縮減率測(cè)量是一個(gè)典型的應(yīng)用。
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)套裝：
奧林巴斯olympus 45MG超聲波測(cè)厚儀軟件選項(xiàng)：45MG-SE (U8147022)：?jiǎn)尉нx項(xiàng)，使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭。 45MG-HP (U8147023)：?jiǎn)尉Ц叽┩高x項(xiàng)，使用頻率范圍為0.5 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭。 45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層。 45MG-WF (U8147019)：波形選項(xiàng)。 45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序。
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